International
Electrotechnical
Commission
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
TC 47 |
Dispositifs à semiconducteurs |
Détail
Comité | Groupes de Travail | Chef de Projet | Statut Courant | Frcst Pub Date | Date Stabilité |
|---|---|---|---|---|---|
| TC 47 | 02 | Jim LYNCH | PPUB | 2016 |
Historique
Stage | Document | Downloads | Date de Décision | Date Cible | ||
|---|---|---|---|---|---|---|
| CDIS |
| 2002-06-07 | ||||
| APUB |
| 2002-08-12 | 2002-08-31 | |||
| BPUB | 2002-08-13 | 2002-09-30 | ||||
| PPUB | 2002-09-12 | 2002-10-31 | ||||
111 kBProjet
IEC 60749-22 Ed. 1.0
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 22: Robustesse des contacts soudés
Remarque:
- This project was circulated within 47/1638/FDIS for info only - The actual vote took place on 47/1394/FDIS - 47/1402/RVD and 47/1477/FDIS and 47/1518/RVD