International
Electrotechnical
Commission
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
TC 47 |
Dispositifs à semiconducteurs |
Détail
Comité | Groupes de Travail | Chef de Projet | Statut Courant | Frcst Pub Date | Date Stabilité |
|---|---|---|---|---|---|
| TC 47 | 02 | James LYNCH | DELPUB | 2004-03 | 2013 |
Historique
Stage | Document | Downloads | Date de Décision | Date Cible | ||
|---|---|---|---|---|---|---|
| PNW |
| 2000-01-21 | ||||
| ANW |
| 2000-04-21 | 2000-06-15 | |||
| 1CD |
| 2001-11-09 | 2002-02-28 | |||
| ACDV |
| 2002-07-19 | 2002-03-31 | |||
| CCDV |
| 2002-11-08 | 2002-09-30 | |||
| ADIS |
| 2003-10-24 | 2003-07-15 | |||
| DEC | 2003-11-05 | 2003-11-30 | ||||
| RDIS | 2003-11-17 | 2003-12-15 | ||||
| CDIS |
| 2003-12-05 | 2004-02-29 | |||
| APUB |
| 2004-02-12 | 2004-05-31 | |||
| BPUB | 2004-02-13 | 2004-06-30 | ||||
| PPUB | 2004-03-15 | 2004-07-31 | ||||
| DELPUB | 2011-04-07 | |||||
28 kBProjet
IEC 60749-21 Ed. 1.0
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 21: Brasabilité
Remarque:
supersedes IEC/PAS 62173 (2000) - MRD revised as per decision in London mtg, 2006-10