International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub

Date

Date

Stabilité

TC 4702Jim LynchPPUB2010-082015

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
AMW
47/2009/MCR pdf file 9 kB
47/2009A/MCR pdf file 217 kB
2009-01-09 
CCDV
47/2016/CDV pdf file 764 kB
pdf file 214 kB
2009-07-312009-06-30
APUB
47/2060/RVC doc file 95 kB
pdf file 237 kB
2010-06-112010-03-31
DEC
2010-07-012010-07-31
BPUB
2010-07-052010-07-31
PPUB
2010-07-282010-11-30

Projet

IEC 60749-19 am1 Ed. 1.0

Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 19: Résistance de la pastille au cisaillement

 

Remarque: