International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub

Date

Date

Stabilité

TC 4702M. EtiennePPUB 2015

Historique

Stage
Document
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Date de Décision
Date Cible
PNW
47/1421/NP  
1998-02-27 
ANW
47/1424/RVN  
1998-06-191998-07-15
1CD
47/1542/CD  
2000-08-041999-12-31
ACDV
47/1582/CC  
2001-10-262000-12-31
CCDV
47/1590/CDV  
2001-11-092001-11-30
ADIS
47/1656/RVC  
2002-08-152002-07-15
DEC
2002-08-152002-08-31
RDIS
2002-08-192002-09-15
CDIS
47/1664/FDIS  
2002-10-182002-11-30
APUB
47/1684/RVD  
2003-01-172003-01-15
BPUB
2003-01-202003-02-15
PPUB
2003-02-132003-03-31

Projet

IEC 60749-19 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 19: Résistance de la pastille au cisaillement

 

Remarque:

cc: TC 91, TC 104 - CA decision Florence: ACDV target extended 01-12-31 - MRD revised as per decision in London, 2006-10

 

Document Associés:

CA/2125/DL