International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub
Date

Date

Stabilité

TC 4702M. EtienneDELPUB2003-032013

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47/1447/PAS  
2000-01-21 
ANW
47/1480/RVD  
2000-04-212000-06-15
1CD
47/1525/CD  
2000-07-142000-07-31
ACDV
47/1578/CC  
2001-10-262000-11-30
CCDV
47/1583/CDV  
2001-11-022001-11-30
ADIS
47/1654/RVC  
2002-08-152002-07-15
DEC
2002-08-152002-08-31
RDIS
2002-08-192002-09-15
CDIS
47/1663/FDIS  
2002-10-182002-11-30
APUB
47/1683/RVD  
2003-01-172003-01-15
BPUB
2003-01-202003-02-15
PPUB
2003-02-072003-03-31
DELPUB
2010-10-28 

Projet

IEC 60749-15 Ed. 1.0

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 15: Résistance à la température de soudage pour dispositifs par trous traversants

 

Remarque:

- formerly IEC/PAS 62174 - Ref. JESD22-B106-B - CA decision Florence: ACDV target extended 01-12-31 - MRD revised as per decision in London, 2006-10

 

Document Associés:

CA/2125/DL