International
Electrotechnical
Commission
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
TC 47 |
Dispositifs à semiconducteurs |
Détail
Comité | Groupes de Travail | Chef de Projet | Statut Courant | Frcst Pub Date | Date Stabilité |
|---|---|---|---|---|---|
| TC 47 | WPUB | 2010 |
Historique
Stage | Document | Downloads | Date de Décision | Date Cible | ||
|---|---|---|---|---|---|---|
| BPUB | 2001-10-29 | |||||
| PPUB | 2002-04-10 | 2001-12-31 | ||||
| WPUB |
| 2004-05-21 | 2004-07-31 | |||
61 kBProjet
IEC 60749 Ed. 2.2
Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques
Remarque:
- Withdrawn by 47/1767/MCR on 04-07-30 and replaced by 60749-xx Parts acc. to annex of MCR
Document Associés:
47/1767/MCR