International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub

Date

Date

Stabilité

TC 4702 WPUB 2010

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
1989-07-01 
ANW
1989-07-02 
1CD
1989-07-31 
CCDV
47(SEC.)/1316/CDV  
1993-01-29 
ADIS
47(SEC.)/1334/RVC  
1993-10-08 
DEC
1996-03-18 
RDIS
1996-03-191996-04-30
CDIS
47/1394/FDIS  
1996-03-22 
APUB
47/1402/RVD  
1996-06-101996-06-30
BPUB
1996-06-111996-07-31
PPUB
1996-10-281996-07-15
WPUB
47/1767/MCR pdf file 61 kB
2004-05-212004-07-31

Projet

IEC 60749 Ed. 2.0

Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques

 

Remarque:

- Supersedes Ed. 1 (1984), Amend. 1 (1991) and Amend 2 (1993) - Withdrawn by 47/1767/MCR on 04-07-30 and replaced by 60749-xx Parts acc. to annex of MCR

 

Document Associés:

47/1387/RM

 
47/1393/RM

 
47/1767/MCR