International
Electrotechnical
Commission
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
TC 47 |
Dispositifs à semiconducteurs |
Détail
Comité | Groupes de Travail | Chef de Projet | Statut Courant | Frcst Pub Date | Date Stabilité |
|---|---|---|---|---|---|
| TC 47 | 05 | J. Bisschop | DEL |
Historique
Stage | Document | Downloads | Date de Décision | Date Cible | ||
|---|---|---|---|---|---|---|
| PNW |
| 1999-07-16 | ||||
| ANW |
| 2000-08-18 | 1999-11-30 | |||
| PWI | 2002-10-28 | 2001-10-31 | ||||
| DEL | 2004-09-17 | |||||
87 kBProjet
DEL 62229 Ed. 1.0
Méthode d'essai triangulaire de champ de tension
Remarque:
- Proj. put at PWI stage decision SMB Beijing 02-10-28 - JEDEC/EIA, TC 56 - Re-started with 47/1787/NP
Document Associés:
SMB/2397/DL