International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 47

Dispositifs à semiconducteurs

 

Détail

Comité
Groupes de Travail
Chef de Projet

Statut

Courant

Frcst Pub

Date

Date

Stabilité

TC 4704Prof. H. DoreyDEL  

Historique

Stage
Document
Downloads
Date de Décision
Date Cible
PNW
47/1407/NP pdf file 184 kB
1997-02-14 
ANW
47/1418/RVN pdf file 127 kB
1997-06-301997-06-30
PWI
2000-02-291999-02-28
DEL
2002-10-28 

Projet

DEL 62047 Ed. 1.0

Mesure et dispositifs de mesure pour les appareils microélectromécaniques

 

Remarque:

- Liaison IEEE TC 9, JISC. - Need coord. ISO/TC 3. - Deleted - decision at meeting held in Beijing 2002-10-28

 

Document Associés:

47/1427/RM