International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 119

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CENELEC

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47/2256/CDV

IEC 62951-1 Ed.1: Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs souples et extensibles - Partie 1: Méthode d'essai de courbure de couches minces conductrices sur des substrats souples

2015-12-11 2016-03-11 Y Voting Result
113/294/CC

[Compilation of comments on 113/269/CD - IEC TS 62607-6-4: Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-4: Graphene - Conductance measurements using resonant cavity ]

Titre français non disponible

2015-12-11 N
113/295/DTS

[IEC 62607-6-4: Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-4: Graphene - Surface conductance measurement using resonant cavity]

Titre français non disponible

2015-12-18 2016-03-18 N Voting Result
113/312/NP

[IEC TS 62607-5-2: Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 5-2: Thin-film organic/nano electronic devices - Measuring Alternating Current characteristics]

Titre français non disponible

2016-03-18 2016-06-10 U Voting Result
113/324/RVC

[Result of voting on 113/295/DTS - IEC/TS 62607-6-4 Ed.1: Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-4: Graphene - Surface conductance measurement using resonant cavity]

Titre français non disponible

2016-07-15 N