International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 104

Conditions, classification et essais d'environnement

 
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47/2226/CDV

IEC 60749-44 Ed.1: Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 44: Méthode d'essai des effets d'un événement isolé (SEE) irradié par un faisceau de neutrons pour des dispositifs à semiconducteurs
2015-04-172015-07-17yesVoting Result
TC 104
TC 107
47/2231/CDV

IEC 60749-43 Ed.1: Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 43: Directives concernant les plans de qualification de la fiabilité des CI
2015-05-292015-09-04yes
TC 91
TC 104