International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 107

Gestion des processus pour avionique

 
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CENELEC

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1/2337A/DC

[Maintenance of IEC 60050-195 International Electrotechnical Vocabulary – Part 195 Earthing and protection against electric shock]

Titre français non disponible

2017-08-11 2017-11-24 N/A
47/2324/CD

[IEC 62435-4 Ed.1: Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 4: Storage ]

Titre français non disponible

2016-09-30 2016-12-23 Y Report of Comments
47/2326/FDIS

IEC 62435-1 Ed.1: Composants électroniques - Stockage de longue durée des dispositifs électroniques à semiconducteurs - Partie 1: Généralités

2016-11-04 2016-12-16 Y Voting Result
47/2327/FDIS

IEC 62435-2 Ed.1: Composants électroniques - Stockage de longue durée des dispositifs électroniques à semiconducteurs - Partie 2: Mécanismes de détérioration

2016-11-04 2016-12-16 Y Voting Result
47/2390/CD

[IEC 62435-6 ED1: Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 6: Packaged or Finished Devices]

Titre français non disponible

2017-04-14 2017-07-07 Y Report of Comments
47/2391/CC

[Compilation of Comments on 47/2324/CD - IEC 62435-4 Ed.1: Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 4: Storage ]

Titre français non disponible

2017-04-21 Y
47/2395/CDV

[IEC 62435-4 ED1: Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 4: Storage]

Titre français non disponible

2017-06-09 2017-09-01 Y Voting Result
47/2403/RVC

[Result of Voting on 47/2296/CDV - IEC 62880-1 Ed.1: Semiconductor devices - Stress Migration Test Standard - Part 1 - Copper Stress Migration Test Standard]

Titre français non disponible

2017-04-28 Y
47/2407/FDIS

[IEC 62880-1 ED1: Semiconductor devices - Stress migration test standard - Part 1: Copper stress migration test standard]

Titre français non disponible

2017-06-16 2017-07-28 Y Voting Result
47/2416/RVD

[Result of Voting on 47/2407/FDIS - IEC 62880-1 ED1: Semiconductor devices - Stress migration test standard - Part 1: Copper stress migration test standard]

Titre français non disponible

2017-08-04 Y
47/2421/CC

[Compilation of Comments on 47/2390/CD - IEC 62435-6 ED1: Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 6: Packaged or Finished Devices]

Titre français non disponible

2017-08-25 Y
47/2430/CD

[IEC 62435-3 ED1: Electronic components – Long-term storage of electronic semiconductor devices – Part 3: Data]

Titre français non disponible

2017-09-15 2017-12-08 Y
56/1715/RR

Gestion de l'obsolescence

2016-12-02 Y
56/1716/CD

IEC 62402 ED2: Gestion de l'obsolescence

2016-12-09 2017-03-03 Y Report of Comments
56/1733/CC

[Compilation of Comments on 56/1716/CD - IEC 62402 ED2: Obsolescence management]

Titre français non disponible

2017-03-10 Y