International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 107

Gestion des processus pour avionique

 
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47/2226/CDV

IEC 60749-44 Ed.1: Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 44: Méthode d'essai des effets d'un événement isolé (SEE) irradié par un faisceau de neutrons pour des dispositifs à semiconducteurs
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