International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 56

Sûreté de fonctionnement

 
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CENELEC

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47/2296/CDV

[IEC 62880-1 Ed.1: Semiconductor devices - Stress Migration Test Standard - Part 1 - Copper Stress Migration Test Standard]

Titre français non disponible

2016-06-10 2016-09-02 Y Voting Result
47/2324/CD

[IEC 62435-4 Ed.1: Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 4: Storage ]

Titre français non disponible

2016-09-30 2016-12-23 U
47/2326/FDIS

IEC 62435-1 Ed.1: Composants électroniques - Stockage de longue durée des dispositifs électroniques à semiconducteurs - Partie 1: Généralités

2016-11-04 2016-12-16 Y
47/2327/FDIS

IEC 62435-2 Ed.1: Composants électroniques - Stockage de longue durée des dispositifs électroniques à semiconducteurs - Partie 2: Mécanismes de détérioration

2016-11-04 2016-12-16 Y
47/2328/FDIS

IEC 62435-5 Ed.1: Composants électroniques - Stockage de longue durée des dispositifs électroniques à semiconducteurs - Partie 5: Dispositifs de puces et plaquettes

2016-11-04 2016-12-16 Y