International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 49

Dispositifs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques et matériaux associés pour la détection, le choix et la commande de la fréquence

 
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CENELEC

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47F/272/NP

[PNW 47F-272: Future IEC 62047-XX Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part XX: Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films]

Titre français non disponible

2016-12-16 2017-03-10 U Voting Result
47F/274/RVN

[Result of Voting on 47F/272/NP - PNW 47F-272: Future IEC 62047-XX Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part XX: Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films]

Titre français non disponible

2017-04-07 U