International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

SC 47F

Systèmes microélectromécaniques

 
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SC 47F Programme de Travail (8)

Référence

Projet

Référence

Document

Init.

Date

Stage

Courant

Prochain

Stage

Working

Group

Project

Leader

Fcst. Publ.

Date

47F/255/NP PRVN
  • PRVN
  • Preparation of RVN

2016-11

2016-12

WG 3 Q. F. Li
47F/256/NP PRVN
  • PRVN
  • Preparation of RVN

2016-11

2016-12

WG 3 W. Zhang
47F/257/NP PRVN
  • PRVN
  • Preparation of RVN

2016-11

2016-12

WG 3 W. Zhang
IEC 62047-27 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 27: Essai de résistance du collage de structures collées par du verre fritté par des essais à microchevron

47F/230A/CDV 2014-02 RPUB
  • RPUB
  • Publication received and registered

2016-12

RPUB
  • RPUB
  • Text for PUB received and registered

2017-02

WG 2 2017-03
47F/266/FDIS 2014-08 CFDIS
  • CFDIS
  • Draft circulated as FDIS

2016-10

PRVD
  • PRVD
  • Preparation of RVD document

2016-12

WG 3 Y. Suzuki 2017-02
47F/263/CDV 2015-11 CCDV
  • CCDV
  • Draft circulated as CDV

2016-11

PRVC
  • PRVC
  • Preparation of RVC

2017-02

WG 2 J H Kim, H J Lee 2017-12
47F/254/CDV 2015-11 CCDV
  • CCDV
  • Draft circulated as CDV

2016-10

PRVC
  • PRVC
  • Preparation of RVC

2017-01

WG 2 I. Kanno 2017-11
47F/246/NP 2016-09 ACD
  • ACD
  • Approved for CD

2016-09

CD
  • CD
  • Draft circulated as CD

2017-01

WG 2 J. H Kim, Dr. H. J. Lee 2019-12