International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 49

Dispositifs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques et matériaux associés pour la détection, le choix et la commande de la fréquence

 
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TC 49 Programme de Travail (12)

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Fcst. Publ.

Date

IEC 60122-1 am1 Ed. 3.0  

Quartz crystal units of assessed quality - Part 1: Generic specification
49/1015/CD2011-04A2CD
  • A2CD
  • Approved for 2nd Committee Draft

2013-02

2CD
  • 2CD
  • 2nd Committee Draft

2014-06

01Mr Bernd Neubig2013-04
IEC 60444-8 Ed. 2.0  

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8 : Test fixture for surface mounted quartz crystal units
49/1099/CD2013-042CD
  • 2CD
  • 2nd Committee Draft

2014-03

A3CD
  • A3CD
  • Approved for 3rd Committee Draft

2014-07

06Y. Watanabe2014-12
IEC 60679-1 Ed. 4.0  

Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators of assessed quality - Part 1 : Generic specification
49/1101/CD2013-012CD
  • 2CD
  • 2nd Committee Draft

2014-03

A3CD
  • A3CD
  • Approved for 3rd Committee Draft

2014-07

07T.Hosoda2015-03
IEC 60679-1 am1 Ed. 3.0  

Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality-Part 1: Generic apecification
49/1013/CD2012-10A2CD
  • A2CD
  • Approved for 2nd Committee Draft

2013-02

2CD
  • 2CD
  • 2nd Committee Draft

2014-06

07Eberhard Seydel2014-03
IEC 60758 Ed. 5.0  

Synthetic quartz crystal - Specifications and guideline for use
49/1090/CD2013-02A3CD
  • A3CD
  • Approved for 3rd Committee Draft

2014-03

3CD
  • 3CD
  • 3rd Committee Draft

2014-04

05J. Takahashi2014-12
IEC 60862-1 Ed. 3.0  

Filtres à ondes acoustiques de surface (OAS) sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique'
49/1092/CDV2010-10CCDV
  • CCDV
  • Draft circulated as Committee Draft with Vote

2014-02

ADIS
  • ADIS
  • Approved for FDIS circulation

2014-08

10Takaharu Kawakatsu2015-04
IEC 61338-1-5 Ed. 1.0  

Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1-5: Informations générales et conditions d'essais - Méthode de mesure de la conductivité au niveau de l'interface entre une couche conductrice et un substrat diélectrique fonctionnant aux hyperfréquences
49/1089/CDV2013-04CCDV
  • CCDV
  • Draft circulated as Committee Draft with Vote

2014-01

ADIS
  • ADIS
  • Approved for FDIS circulation

2014-07

10T.Ishizaki2015-03
IEC 61837-3 Ed. 2.0  

Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 3: Enveloppes métalliques
49/1080/CDV2012-11CCDV
  • CCDV
  • Draft circulated as Committee Draft with Vote

2013-09

ADIS
  • ADIS
  • Approved for FDIS circulation

2014-03

09M. Tanaka2014-11
IEC 61837-4 Ed. 2.0  

Dispositifs piezoélectriques montés en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 4 : Encombrements des enveloppes hybrides
49/1081/CDV2012-11CCDV
  • CCDV
  • Draft circulated as Committee Draft with Vote

2013-09

ADIS
  • ADIS
  • Approved for FDIS circulation

2014-03

09M. Tanaka2014-11
IEC 62575-1 Ed. 1.0  

Filtres radiofréquences (RF) à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique
49/1097/CDV2011-12CCDV
  • CCDV
  • Draft circulated as Committee Draft with Vote

2014-04

ADIS
  • ADIS
  • Approved for FDIS circulation

2014-10

12/10K. Hashimoto2015-05
IEC 62604-1 Ed. 1.0  

Duplexeurs à ondes acoustiques de surface (OAS) et à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique
49/1093/CDV2011-08CCDV
  • CCDV
  • Draft circulated as Committee Draft with Vote

2014-02

ADIS
  • ADIS
  • Approved for FDIS circulation

2014-08

10Mr Takaharu Kawakatsu2015-04
IEC 62884-4 Ed. 1.0  

Measurement techniques for piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators : Part 4 - Short-term frequency stability.
49/1053/NP2013-08ANW
  • ANW
  • Approved New Work

2013-08

1CD
  • 1CD
  • 1st Committee Draft

2013-10

07B. Neubig2015-12