International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

SC 47F

Systèmes microélectromécaniques

 
export to xls file

SC 47F Publications (22)

Aperçu
Référence, Edition, Date, Titre
sort up
Langue
sort upsort down
Aperçu
IEC 62047-1:2005

Edition 1.0 (2005-09-27)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 1: Termes et définitions

EN-FR
Aperçu
IEC 62047-2:2006

Edition 1.0 (2006-08-15)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 2: Méthode d'essai de traction des matériaux en couche mince

EN-FR
Aperçu
IEC 62047-3:2006

Edition 1.0 (2006-08-15)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 3: Eprouvette d'essai normalisée en couche mince pour l'essai de traction

EN-FR
Aperçu
IEC 62047-4:2008

Edition 1.0 (2008-08-21)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 4: Spécification générique pour les MEMS

EN-FR
Aperçu
IEC 62047-5:2011

Edition 1.0 (2011-07-13)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 5: Commutateurs MEMS-RF

EN-FR
Pas d'aperçu
IEC 62047-5:2011/COR1:2012

Edition 1.0 (2012-03-08)

Corrigendum 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 5: Commutateurs MEMS-RF

EN-FR
Aperçu
IEC 62047-6:2009

Edition 1.0 (2009-04-07)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 6: Méthodes d'essais de fatigue axiale des matériaux en couche mince

EN-FR
Aperçu
IEC 62047-7:2011

Edition 1.0 (2011-06-16)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 7: Filtre et duplexeur BAW MEMS pour la commande et le choix des fréquences radioélectriques

EN-FR
Aperçu
IEC 62047-8:2011

Edition 1.0 (2011-03-14)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 8: Méthode d'essai de la flexion de bandes en vue de la mesure des propriétés de traction des couches minces

EN-FR
Aperçu
IEC 62047-9:2011

Edition 1.0 (2011-07-13)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositif microélectromécaniques - Partie 9: Mesure de la résistance de collage de deux plaquettes pour les MEMS

EN-FR
Pas d'aperçu
IEC 62047-9:2011/COR1:2012

Edition 1.0 (2012-03-08)

Corrigendum 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 9: Mesure de la résistance de collage de deux plaquettes pour les MEMS

EN-FR
Aperçu
IEC 62047-10:2011

Edition 1.0 (2011-07-26)

Dispositifs à semiconducteur - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 10: Essai de compression utilisant la technique des micro-piliers pour les matériaux des MEMS

EN-FR
Pas d'aperçu
IEC 62047-10:2011/COR1:2012

Edition 1.0 (2012-02-28)

Corrigendum 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 10: Essai de compression utilisant la technique des micro-piliers pour les matériaux des MEMS

EN-FR
Aperçu
IEC 62047-11:2013

Edition 1.0 (2013-07-17)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 11: Méthode d'essai pour les coefficients de dilatation thermique linéaire des matériaux autonomes pour systèmes microélectromécaniques

EN-FR
Aperçu
IEC 62047-12:2011

Edition 1.0 (2011-09-13)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 12: Méthode d'essai de fatigue en flexion des matériaux en couche mince utilisant les vibrations à la résonance des structures à systèmes microélectromécaniques (MEMS)

EN-FR
Aperçu
IEC 62047-13:2012

Edition 1.0 (2012-02-28)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 13: Méthodes d'essais de types courbure et cisaillement de mesure de la résistance d'adhérence pour les structures MEMS

EN-FR
Aperçu
IEC 62047-14:2012

Edition 1.0 (2012-02-28)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 14: Méthode de mesure des limites de formage des matériaux à couche métallique

EN-FR
Aperçu
IEC 62047-18:2013

Edition 1.0 (2013-07-17)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 18: Méthodes d'essai de flexion des matériaux en couche mince

EN-FR
Aperçu
IEC 62047-19:2013

Edition 1.0 (2013-07-17)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 19: Compas électroniques

EN-FR
Aperçu
IEC 62047-20:2014

Edition 1.0 (2014-06-26)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 20: Gyroscopes

EN-FR
Aperçu
IEC 62047-21:2014

Edition 1.0 (2014-06-19)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 21: Méthode d'essai relative au coefficient de Poisson des matériaux MEMS en couche mince

EN-FR
Aperçu
IEC 62047-22:2014

Edition 1.0 (2014-06-19)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 22: Méthode d'essai de traction électromécanique pour les couches minces conductrices sur des substrats souples

EN-FR