IEC 60748-1

Edition 2.0 (2002-05-08)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 1: Généralités

Stability Date: 2015

IEC 60748-2

Edition 2.0 (1997-12-22)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 2: Circuits intégrés numériques

Stability Date: 2015

IEC 60748-2-1

Edition 1.0 (1991-10-01)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 2-1: Circuits intégrés numériques - Spécification particulière cadre pour les portes bipolaires à circuits intégrés monolithiques (non valable pour les réseaux logiques prédiffusés)

Stability Date: 2015

IEC 60748-2-2

Edition 1.0 (1992-02-29)

Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés - Deuxième partie: Circuits intégrés numériques - Section deux: Spécification de famille pour les circuits intégrés numériques HCMOS, séries 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU

Stability Date: 2017

IEC 60748-2-2-am1

Edition 1.0 (1994-06-07)

Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés - Deuxième partie: Circuits intégrés numériques - Section deux: Spécification de famille pour les circuits intégrés numériques HCMOS, séries 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU

Stability Date: 2017

IEC 60748-2-3

Edition 1.0 (1992-02-20)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Deuxième partie: Circuits intégrés numériques - Section trois: Spécification particulière cadre pour les circuits intégrés numériques HCMOS (séries 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU)

Stability Date: 2017

IEC 60748-2-4

Edition 1.0 (1992-01-30)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Deuxième partie: Circuits intégrés numériques - Section quatre: Spécification de famille pour les circuits intégrés numériques MOS complémentaires, séries 4000 B et 4000 UB

Stability Date: 2017

IEC 60748-2-5

Edition 1.0 (1992-01-31)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Deuxième partie: Circuits intégrés numériques - Section cinq: Spécification particulière cadre pour les circuits intégrés numériques MOS complémentaires (séries 4000 B et 4000 UB)

Stability Date: 2017

IEC 60748-2-6

Edition 1.0 (1991-11-15)

Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés - Deuxième partie: Circuits intégrés numériques - Section six: Spécification particulière cadre pour les microprocesseurs à circuits intégrés

Stability Date: 2017

IEC 60748-2-7

Edition 1.0 (1992-10-23)

Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés - Deuxième partie: Circuits intégrés numériques - Section sept: Spécification particulière cadre pour les mémoires bipolaires à lecture seule programmables par fusion à circuits intégrés

Stability Date: 2017

IEC 60748-2-8

Edition 1.0 (1993-07-29)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 2: Circuits intégrés numériques - Section Huit: Spécification particulière cadre pour les mémoires à circuits intégrés à lecture-écriture à fonctionnement statique

Stability Date: 2017

IEC 60748-2-9

Edition 1.0 (1994-12-21)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 2: Circuits intégrés numériques - Section 9: Spécification particulière cadre pour les mémoires mortes MOS effaçables aux UV et programmables électriquement

Stability Date: 2017

IEC 60748-2-10

Edition 1.0 (1994-12-21)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 2: Circuits intégrés numériques - Section 10: Spécification particulière cadre pour les mémoires à circuits intégrés à lecture-écriture à fonctionnement dynamique

Stability Date: 2018

IEC 60748-2-11

Edition 1.0 (1999-04-12)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 2-11: Circuits intégrés numériques - Spécification particulière cadre pour mémoires mortes à circuits intégrés, à alimentation unique, effaçables et programmables électriquement

Stability Date: 2018

IEC 60748-2-12

Edition 1.0 (2001-01-30)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 2-12: Circuits intégrés numériques - Spécification particulière cadre pour les circuits logiques programmables (PLD)

Stability Date: 2018

IEC 60748-2-20

Edition 2.0 (2008-02-27)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 2-20: Circuits intégrés numériques - Spécification de famille - Circuits intégrés basse tension

Stability Date: 2017

IEC 60748-3

Edition 1.0 (1986-01-01)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 3: Circuits intégrés analogiques

Stability Date: 2016

IEC 60748-3-am1

Edition 1.0 (1991-11-15)

Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Troisième partie: Circuits intégrés analogiques

Stability Date: 2016

IEC 60748-3-am2

Edition 1.0 (1994-02-08)

Amendement 2 - Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Troisième partie: Circuits intégrés analogiques

Stability Date: 2016

IEC 60748-3-am2

Edition 1.0 (1996-06-11)

Corrigendum 1 à l'amendement 2 - Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Troisième partie: Circuits intégrés analogiques

Stability Date: 2016

IEC 60748-3-1

Edition 1.0 (1991-08-02)

Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés - Troisième partie: Circuits intégrés analogiques - Section un: Spécification particulière cadre pour les amplificateurs opérationnels intégrés monolithiques

Stability Date: 2017

IEC 60748-4

Edition 2.0 (1997-04-23)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 4: Circuits intégrés d'interface

Stability Date: 2015

IEC 60748-4-1

Edition 1.0 (1993-11-11)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 4: Circuits intégrés d'interface - Section 1: Spécification particulière cadre pour les convertisseurs linéaires numériques-analogiques

Stability Date: 2015

IEC 60748-4-2

Edition 1.0 (1993-11-11)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 4: Circuits intégrés d'interface - Section 2: Spécification particulière cadre pour les convertisseurs linéaires analogiques-numériques

Stability Date: 2015

IEC 60748-4-3

Edition 1.0 (2006-08-29)

Stability Date: 2017

IEC 60748-5

Edition 1.0 (1997-05-30)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 5: Circuits intégrés semi-personnalisés

Stability Date: 2015

IEC 60748-11

Edition 1.0 (1990-12-20)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 11: Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés à semiconducteurs à l'exclusion des circuits hybrides

Stability Date: 2016

IEC 60748-11-am1

Edition 1.0 (1995-06-06)

Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 11: Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés à semiconducteurs à l'exclusion des circuits hybrides

Stability Date: 2016

IEC 60748-11-am2

Edition 1.0 (1999-04-16)

Amendement 2 - Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Onzième partie: Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés à semiconducteurs à l'exclusion des circuits hybrides

Stability Date: 2016

IEC 60748-11-1

Edition 1.0 (1992-04-01)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 11-1: Examen visuel interne pour les circuits intégrés à semiconducteurs à l'exclusion des circuits hybrides

Stability Date: 2016

IEC 60748-20

Edition 1.0 (1988-06-30)

Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Vingtième partie: Spécification générique pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à couches

Stability Date: 2017

IEC 60748-20-am1

Edition 1.0 (1995-09-22)

Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Vingtième partie: Spécification générique pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à couches

Stability Date: 2017

IEC 60748-20-1

Edition 1.0 (1994-03-01)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 20: Spécification générique pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à couches - Section 1: Exigences pour l'examen visuel interne

Stability Date: 2017

IEC 60748-21

Edition 2.0 (1997-04-10)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 21: Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à couches sur la base des procédures d'homologation

Stability Date: 2015

IEC 60748-21-1

Edition 2.0 (1997-04-10)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 21-1: Spécification particulière cadre pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à couches sur la base des procédures d'homologation

Stability Date: 2015

IEC 60748-22

Edition 2.0 (1997-04-10)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 22: Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à couches sur la base des procédures d'agrément de savoir-faire

Stability Date: 2015

IEC 60748-22-1

Edition 2.0 (1997-04-10)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 22-1: Spécification particulière cadre pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à couches sur la base des procédures d'agrément de savoir-faire

Stability Date: 2015

IEC 60748-23-1

Edition 1.0 (2002-05-15)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 23-1: Circuits intégrés hybrides et structures par films - Certification de la ligne de fabrication - Spécification générique

Stability Date: 2016

IEC 60748-23-2

Edition 1.0 (2002-05-23)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 23-2: Circuits intégrés hybrides et structures par films - Certication de la ligne de fabrication - Contrôle visuel interne et essai spéciaux

Stability Date: 2016

IEC 60748-23-3

Edition 1.0 (2002-05-17)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 23-3: Circuits intégrés hybrides et structures par films - Certification de la ligne de fabrication - Liste de contrôle et rapport d'évaluation interne pour fabricants

Stability Date: 2016

IEC 60748-23-4

Edition 1.0 (2002-05-17)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 23-4: Circuits intégrés hybrides et structures par films - Certification de la ligne de fabrication - Spécification particulière cadre

Stability Date: 2016

IEC 60748-23-5

Edition 1.0 (2003-10-03)

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 23-5: Circuits intégrés hybrides et structures par films - Certification de la ligne de fabrication - Procédure d'homologation

Stability Date: 2016

IEC 61739

Edition 1.0 (1996-10-30)

Circuits intégrés - Procédures pour l'agrément d'une ligne de fabrication et la gestion de la qualité

Stability Date: 2015

IEC 61943

Edition 1.0 (1999-03-19)

Circuits intégrés - Guide d'application pour l'agrément des lignes de fabrication

Stability Date: 2015

IEC/TS 61944

Edition 1.0 (2000-01-31)

Circuits intégrés - Agrément d'une ligne de fabrication - Véhicules de démonstration

Stability Date: 2017

IEC/TS 61945

Edition 1.0 (2000-03-10)

Circuits intégrés - Agrément d'une ligne de fabrication - Méthodologie d'analyse technologique et de défaillance

Stability Date: 2017

IEC 61964

Edition 1.0 (1999-04-30)

Circuits intégrés - Configuration de broches de mémoires

Stability Date: 2015

IEC 61967-1

Edition 1.0 (2002-03-12)

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions

Stability Date: 2017

IEC/TR 61967-1-1

Edition 1.0 (2010-05-11)

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 1-1: Conditions générales et définitions - Format d'échange de données de cartographie en champ proche

Stability Date: 2014

IEC 61967-2

Edition 1.0 (2005-09-29)

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 2: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande

Stability Date: 2017

IEC/TS 61967-3

Edition 1.0 (2005-06-10)

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz À 1 GHz - Partie 3: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de scrutation surfacique

Stability Date: 2015

IEC 61967-4

Edition 1.1 (2006-07-27)

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 Ω/150 Ω

Stability Date: 2015

IEC 61967-4

Edition 1.0 (2002-04-30)

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4 : Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm

Stability Date: 2015

IEC 61967-4-am1

Edition 1.0 (2006-02-09)

Amendement 1 - Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 Ω/150 Ω

Stability Date: 2015

IEC/TR 61967-4-1

Edition 1.0 (2005-02-07)

Stability Date: 2014

IEC 61967-5

Edition 1.0 (2003-02-13)

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 5: Mesure des émissions conduites - Méthode de la cage de Faraday sur banc de travail

Stability Date: 2014

IEC 61967-6

Edition 1.1 (2008-06-24)

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique

Stability Date: 2018

IEC 61967-6

Edition 1.0 (2002-06-25)

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique

Stability Date: 2018

IEC 61967-6

Edition 1.0 (2010-08-30)

Corrigendum 1 - Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique

Stability Date: 2018

IEC 61967-6-am1

Edition 1.0 (2008-03-12)

Amendement 1 - Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique

Stability Date: 2018

IEC 61967-8

Edition 1.0 (2011-08-11)

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI

Stability Date: 2015

IEC 62132-1

Edition 1.0 (2006-01-19)

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions

Stability Date: 2017

IEC 62132-2

Edition 1.0 (2010-03-30)

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité electromagnétique - Partie 2: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande

Stability Date: 2014

IEC 62132-3

Edition 1.0 (2007-09-26)

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 3: Méthode d'injection de courant (BCI)

Stability Date: 2015

IEC 62132-4

Edition 1.0 (2006-02-21)

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Méthode d'injection directe de puissance RF

Stability Date: 2015

IEC 62132-5

Edition 1.0 (2005-10-10)

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 5: Méthode de la cage de Faraday sur banc de travail

Stability Date: 2014

IEC 62132-8

Edition 1.0 (2012-07-06)

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré

Stability Date: 2016

IEC/TS 62215-2

Edition 1.0 (2007-09-10)

Stability Date: 2017

IEC/TS 62228

Edition 1.0 (2007-02-16)

Stability Date: 2015

IEC/TS 62404

Edition 1.0 (2007-02-20)

Stability Date: 2017

IEC/TS 62433-1

Edition 1.0 (2011-04-21)

Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 1: Cadre de modèle général

Stability Date: 2016

IEC 62433-2

Edition 1.0 (2008-10-08)

Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 2: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques - Modélisation des émissions conduites (ICEM-CE)

Stability Date: 2015

IEC 62433-2

Edition 1.0 (2008-10-08)

Stability Date: 2015

IEC/TR 62433-2-1

Edition 1.0 (2010-10-05)

Modèles de circuits intégrés CEM - Partie 2-1: Théorie du modèle de la boîte noire pour les émissions conduites

Stability Date: 2018