International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

SC 47A

Circuits intégrés

 
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SC 47A Fichiers Projets (154)

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IEC 60148 ED3

Examen systématique de la CEI 148 (1969)

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IEC 60148:1969 ED2

Symboles littéraux pour les dispositifs à semiconducteurs et les microcircuits intégrés

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IEC 60748-1:2002 ED2

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 1: Généralités

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IEC 60748-1:1984 ED1

Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Première partie: Généralités

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IEC 60748-1:1984/AMD1:1991 ED1

Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Première partie: Généralités

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IEC 60748-1:1984/AMD2:1993 ED1

Amendement 2 - Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Première partie: Généralités

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IEC 60748-1:1984/AMD3:1995 ED1

Amendement 3 - Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Première partie: Généralités

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EN-FR U 47A(SEC.)/314/CD
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EN U 47/1400/CD
IEC 60748-2:1997 ED2

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 2: Circuits intégrés numériques

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IEC 60748-2:1985 ED1

Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Deuxième partie: Circuits intégrés digitaux

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IEC 60748-2:1985/AMD2:1993 ED1

Amendement 2 - Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Deuxième partie: Circuits intégrés digitaux

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IEC 60748-2:1985/AMD4/FRAG6 ED1

Classification et définition concernant les réseaux logiques programmables (PLDs), à ajouter à la CEI 748-1

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IEC 60748-2-1 ED2

Examen systématique de la CEI 748-2-1 (1991)

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IEC 60748-2-1:1991 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 2-1: Circuits intégrés numériques - Spécification particulière cadre pour les portes bipolaires à circuits intégrés monolithiques (non valable pour les réseaux logiques prédiffusés)

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IEC 60748-2-2 ED2

Examen systématique de la CEI 60748-2-2 (1992)

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IEC 60748-2-2:1992 ED1

Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés - Deuxième partie: Circuits intégrés numériques - Section deux: Spécification de famille pour les circuits intégrés numériques HCMOS, séries 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU

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IEC 60748-2-2:1992/AMD1:1994 ED1

Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés - Deuxième partie: Circuits intégrés numériques - Section deux: Spécification de famille pour les circuits intégrés numériques HCMOS, séries 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU

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IEC 60748-2-3 ED2

Examen systématique de la CEI 60748-2-3 (1992)

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IEC 60748-2-3:1992 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Deuxième partie: Circuits intégrés numériques - Section trois: Spécification particulière cadre pour les circuits intégrés numériques HCMOS (séries 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU)

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IEC 60748-2-4 ED2

Examen systématique de la CEI 60748-2-4 (1992)

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IEC 60748-2-4:1992 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Deuxième partie: Circuits intégrés numériques - Section quatre: Spécification de famille pour les circuits intégrés numériques MOS complémentaires, séries 4000 B et 4000 UB

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IEC 60748-2-5 ED2

Examen systématique de la CEI 60748-2-5 (1992)

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IEC 60748-2-5:1992 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Deuxième partie: Circuits intégrés numériques - Section cinq: Spécification particulière cadre pour les circuits intégrés numériques MOS complémentaires (séries 4000 B et 4000 UB)

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IEC 60748-2-6 ED2

Examen systématique de la CEI 60748-2-6 (1991)

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IEC 60748-2-6:1991 ED1

Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés - Deuxième partie: Circuits intégrés numériques - Section six: Spécification particulière cadre pour les microprocesseurs à circuits intégrés

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IEC 60748-2-7 ED2

Examen systématique de la CEI 748-2-7 (1992)

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IEC 60748-2-7:1992 ED1

Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés - Deuxième partie: Circuits intégrés numériques - Section sept: Spécification particulière cadre pour les mémoires bipolaires à lecture seule programmables par fusion à circuits intégrés

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IEC 60748-2-8:1993 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 2: Circuits intégrés numériques - Section Huit: Spécification particulière cadre pour les mémoires à circuits intégrés à lecture-écriture à fonctionnement statique

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IEC 60748-2-9:1994 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 2: Circuits intégrés numériques - Section 9: Spécification particulière cadre pour les mémoires mortes MOS effaçables aux UV et programmables électriquement

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IEC 60748-2-10:1994 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 2: Circuits intégrés numériques - Section 10: Spécification particulière cadre pour les mémoires à circuits intégrés à lecture-écriture à fonctionnement dynamique

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IEC 60748-2-11:1999 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 2-11: Circuits intégrés numériques - Spécification particulière cadre pour mémoires mortes à circuits intégrés, à alimentation unique, effaçables et programmables électriquement

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IEC 60748-2-12:2001 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 2-12: Circuits intégrés numériques - Spécification particulière cadre pour les circuits logiques programmables (PLD)

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IEC 60748-2-20:2008 ED2

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 2-20: Circuits intégrés numériques - Spécification de famille - Circuits intégrés basse tension

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IEC 60748-2-20:2000 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 2-20: Circuits intégrés numériques - Spécification de famille - Circuits intégrés basse tension

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EN-FR 2000-10 U 47A/591/FDIS PDF file 213 kB
IEC 60748-3 ED2

Examen systématique de la CEI 748-3 (1986)

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IEC 60748-3:1986 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 3: Circuits intégrés analogiques

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IEC 60748-3:1986/AMD1:1991 ED1

Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Troisième partie: Circuits intégrés analogiques

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IEC 60748-3:1986/AMD2:1994 ED1

Amendement 2 - Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Troisième partie: Circuits intégrés analogiques

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IEC 60748-3-1 ED2

Examen systématique de la CEI 748-3-1 (1991)

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IEC 60748-3-1:1991 ED1

Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés - Troisième partie: Circuits intégrés analogiques - Section un: Spécification particulière cadre pour les amplificateurs opérationnels intégrés monolithiques

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IEC 60748-4:1997 ED2

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 4: Circuits intégrés d'interface

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IEC 60748-4:1997/FRAG1 ED2

Circuits intégrés d'interface - Méthodes de mesure des convertisseurs linéaires analogiques-numériques et numériques-analogiques

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EN-FR U 47A(SEC.)/300/CDV
IEC 60748-4:1997/FRAG3 ED2

Circuits intégrés d'interface - Amendements et additions à la CEI 748-4, Chapitre II, article 2 pour la catégorie II

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EN-FR U 47A(SEC.)/333/CDV
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EN U 47A(U.K.)/244/NP
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EN U 47A(U.K.)/245/NP
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EN U 47A(JP)/211/NP
IEC 60748-4:1987 ED1

Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Quatrième partie: Circuits intégrés d'interface.

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IEC 60748-4:1987/AMD1:1991 ED1

Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Quatrième partie: Circuits intégrés d'interface.

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IEC 60748-4:1987/AMD2:1994 ED1

Amendement 2 - Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Quatrième partie: Circuits intégrés d'interface.

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IEC 60748-4-1:1993 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 4: Circuits intégrés d'interface - Section 1: Spécification particulière cadre pour les convertisseurs linéaires numériques-analogiques

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IEC 60748-4-2:1993 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 4: Circuits intégrés d'interface - Section 2: Spécification particulière cadre pour les convertisseurs linéaires analogiques-numériques

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IEC 60748-5:1997 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 5: Circuits intégrés semi-personnalisés

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IEC 60748-5:1997/FRAG1 ED1

Classification des circuits intégrés - Nouvelle CEI 748-5

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IEC 60748-5:1997/FRAG3 ED1

Amendmement à la CEI 748-5 - Chapitre V: Réception et fiabilité

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EN-FR U 47A/403/CDV
IEC 60748-11:1990 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 11: Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés à semiconducteurs à l'exclusion des circuits hybrides

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IEC 60748-11:1990/AMD1:1995 ED1

Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 11: Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés à semiconducteurs à l'exclusion des circuits hybrides

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IEC 60748-11:1990/AMD2:1999 ED1

Amendement 2 - Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Onzième partie: Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés à semiconducteurs à l'exclusion des circuits hybrides

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IEC 60748-11-1 ED2

Examen systématique de la CEI 60748-11-1 (1992)

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IEC 60748-11-1:1992 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 11-1: Examen visuel interne pour les circuits intégrés à semiconducteurs à l'exclusion des circuits hybrides

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IEC 60748-20 ED2

Examen systématique de la CEI 748-20 (1988)

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IEC 60748-20:1988 ED1

Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Vingtième partie: Spécification générique pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à couches

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IEC 60748-20:1988/AMD1:1995 ED1

Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Vingtième partie: Spécification générique pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à couches

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IEC 60748-20:1988/AMD1:1995/FRAG2 ED1

Amendement à la CEI 748-20

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EN-FR U 47A(SEC.)/350/CDV
IEC 60748-20-1:1994 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 20: Spécification générique pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à couches - Section 1: Exigences pour l'examen visuel interne

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IEC 60748-21:1997 ED2

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 21: Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à couches sur la base des procédures d'homologation

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IEC 60748-21:1991 ED1

Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés - Vingt et unième partie: Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à couches sur la base de la procédure d'homologation.

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IEC 60748-21-1:1997 ED2

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 21-1: Spécification particulière cadre pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à couches sur la base des procédures d'homologation

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IEC 60748-21-1:1991 ED1

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Vingt-et-unième partie; Section un: Spécification particulière cadre pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à couches sur la base des procédures d'homologation.

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IEC 60748-22:1997 ED2

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 22: Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à couches sur la base des procédures d'agrément de savoir-faire

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IEC 60748-22:1992 ED1

Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés - Vingt-deuxième partie: Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à couches sur la base des procédures d'agrément de savoir-faire.

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IEC 60748-22-1:1997 ED2

Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 22-1: Spécification particulière cadre pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à couches sur la base des procédures d'agrément de savoir-faire

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IEC 60748-22-1:1991 ED1

Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés - Vingt-deuxième partie - Section Un: Spécification particulière cadre pour les circuits intégrés à couches, et les circuits intégrés hybrides à couches, sur la base des procédures d'agrément de savoir-faire.

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IEC 61739:1996 ED1

Circuits intégrés - Procédures pour l'agrément d'une ligne de fabrication et la gestion de la qualité

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IEC 61748 ED1

Certification de ligne de fabrication por MCM

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EN U 47A/407/NP
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EN U 47A/410/NP
IEC 61943:1999 ED1

Circuits intégrés - Guide d'application pour l'agrément des lignes de fabrication

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IEC TS 61944:2000 ED1

Circuits intégrés - Agrément d'une ligne de fabrication - Véhicules de démonstration

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IEC TS 61945:2000 ED1

Circuits intégrés - Agrément d'une ligne de fabrication - Méthodologie d'analyse technologique et de défaillance

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EN U 47A/429/NP
IEC 61964:1999 ED1

Circuits intégrés - Configuration de broches de mémoires

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EN U 47A/525/NP
IEC 61967-1:2002 ED1

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions

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EN 2015-09 N Webstore
IEC TR 61967-1-1:2010 ED1

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 1-1: Conditions générales et définitions - Format d'échange de données de cartographie en champ proche

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EN-FR 2010-05 N 47A/827A/DTR PDF file 1005 kB
IEC 61967-2:2005 ED1

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 2: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande

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IEC TS 61967-3:2014 ED2

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 3: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de balayage en surface

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EN-FR 2014-08 N Webstore
IEC TS 61967-3:2005 ED1

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz À 1 GHz - Partie 3: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de scrutation surfacique

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EN-FR 2005-06 N 47A/697/DTS PDF file 358 kB
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IEC 61967-4:2006+AMD1:2006 CSV ED1.1

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 Ω/150 Ω

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IEC 61967-4:2002 ED1

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4 : Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm

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IEC 61967-4:2002/AMD1:2006 ED1

Amendement 1 - Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 Ω/150 Ω

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EN 2005-02 U Webstore
IEC 61967-5:2003 ED1

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 5: Mesure des émissions conduites - Méthode de la cage de Faraday sur banc de travail

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IEC 61967-6:2008+AMD1:2008 CSV ED1.1

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique

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IEC 61967-6:2002 ED1

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique

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IEC 61967-6:2002/COR1:2010 ED1

Corrigendum 1 - Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique

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IEC 61967-6:2002/AMD1:2008 ED1

Amendement 1 - Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique

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EN-FR 2008-03 Y Webstore
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EN U 47A/552/NP PDF file 103 kB
IEC 61967-8:2011 ED1

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI

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EN U 47A/473/NP
IEC 62132-1:2015 ED2

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 1: Conditions générales et définitions

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IEC 62132-1:2006 ED1

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions

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IEC 62132-2:2010 ED1

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité electromagnétique - Partie 2: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande

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IEC 62132-3:2007 ED1

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 3: Méthode d'injection de courant (BCI)

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IEC 62132-4:2006 ED1

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Méthode d'injection directe de puissance RF

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IEC 62132-5:2005 ED1

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 5: Méthode de la cage de Faraday sur banc de travail

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IEC 62132-8:2012 ED1

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré

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IEC TS 62132-9:2014 ED1

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 9: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de balayage en surface

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IEC 62215-3:2013 ED1

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité aux impulsions - Partie 3: Méthode d'injection de transitoires non synchrones

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IEC 62228-2:2016 ED1

Circuits intégrés - Évaluation de la CEM des émetteurs-récepteurs - Partie 2: Emetteurs-récepteurs LIN

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IEC TS 62433-1:2011 ED1

Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 1: Cadre de modèle général

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IEC 62433-2 ED2

Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 2: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques - Modélisation des émissions conduites (ICEM-CE)

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IEC 62433-2:2008 ED1

Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 2: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques - Modélisation des émissions conduites (ICEM-CE)

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IEC 62433-2:2008/FRAGF ED1

Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 2: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques - Modélisation des émissions conduites (ICEM-CE)

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IEC TR 62433-2-1:2010 ED1

Modèles de circuits intégrés CEM - Partie 2-1: Théorie du modèle de la boîte noire pour les émissions conduites

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IEC 62433-3 ED1

Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 3: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques - Modélisation des émissions rayonnées (ICEM-RE)

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IEC 62433-4:2016 ED1

Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 4: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement d'immunité aux radiofréquences - Modélisation de l'immunité conduite (ICIM-CI)

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IEC 60148A ED3

Examen systématique de la CEI 148A (1974)

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IEC 60148A:1974 ED2

premier complément

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IEC 60148B ED3

Examen systématique de la CEI 148B (1979)

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IEC 60148B:1979 ED2

deuxième complément

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