International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 49

Dispositifs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques et matériaux associés pour la détection, le choix et la commande de la fréquence

 
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TC 49 Fichiers Projets (210)

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IEC 60122-1:2002 ED3

Résonateurs à quartz sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique

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EN 2018-01 Y 49/1180/CD PDF file 218 kB
IEC 60122-1:1976 ED2

Quartz pour le contrôle et la sélection de la fréquence - Partie 1: Valeurs normalisées et conditions de mesures et d'essais

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IEC 60122-1:1976/AMD1:1983 ED2

Amendement 1 - Quartz pour le contrôle et la sélection de la fréquence - Partie 1: Valeurs normalisées et conditions de mesures et d'essais

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IEC 60122-2:1983 ED2

Quartz pour le contrôle et la sélection de la fréquence - Partie 2: Guide pour l'emploi des résonateurs à quartz pour le contrôle et la sélection de la fréquence

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IEC 60122-2-1:1991 ED1

Quartz pour le contrôle et la sélection de la fréquence - Deuxième partie: Guide pour l'emploi des résonateurs à quartz pour le contrôle et la sélection de la fréquence - Section un: Résonateurs à quartz comme base de temps dans les microprocesseurs

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IEC 60122-2-1:1991/AMD1:1993 ED1

Amendement 1 - Quartz pour le contrôle et la sélection de la fréquence - Deuxième partie: Guide pour l'emploi des résonateurs à quartz pour le contrôle et la sélection de la fréquence - Section un: Résonateurs à quartz comme base de temps dans les microprocesseurs

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IEC 60122-3:2010 ED4

Résonateurs à quartz sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés et connexions des sorties

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IEC 60122-3:2001 ED3

Résonateurs à quartz sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés et connexions des sorties

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EN 2010-12 Y
IEC 60122-3:1977 ED2

Quartz pour le contrôle et la sélection de la fréquence. Troisième partie: Encombrements normalisés et connexions des broches

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IEC 60122-3:1977/AMD2:1991 ED2

Amendement 2 - Quartz pour le contrôle et la sélection de la fréquence. Troisième partie: Encombrements normalisés et connexions des broches

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IEC 60122-3:1977/AMD3:1992 ED2

Amendement 3 - Quartz pour le contrôle et la sélection de la fréquence. Troisième partie: Encombrements normalisés et connexions des broches

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IEC 60122-3:1977/AMD4:1993 ED2

Amendement 4 - Quartz pour le contrôle et la sélection de la fréquence. Troisième partie: Encombrements normalisés et connexions des broches

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IEC 60302:1969 ED1

Définitions normalisées et méthodes de mesures pour les résonateurs piézoélectriques de fréquences inférieures à 30 MHz

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IEC 60368-1:2000 ED4

Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique

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IEC 60368-1:2000/AMD1:2004 ED4

Amendement 1 - Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique

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IEC 60368-1:2000/AMD1:2004/FRAGF ED4

Amendement 1 - Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique

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FR 2013-02 U
IEC 60368-1:1992 ED3

Filtres piézoélectriques - Partie 1: Informations générales, valeurs normalisées et conditions d'essais

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IEC 60368-2-1 ED3

Examen systématique de la CEI 368-2-1 (1988)

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IEC 60368-2-1:1988 ED2

Filtres piézoélectriques - Partie 2-1: Guide d'emploi des filtres piézoélectriques - Filtres à quartz

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IEC 60368-2-2:1996 ED1

Filtres piézoélectriques - Partie 2: Guide d'emploi des filtres piézoélectriques - Section 2: Filtres à céramique piézoélectrique

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IEC 60368-3:2010 ED4

Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés et connexions des sorties

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IEC 60368-3:2001 ED3

Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés et connexions des sorties

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EN 2010-12 Y
IEC 60368-3:1991 ED2

Filtres piézoélectriques - Partie 3: Encombrements normalisés

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IEC 60368-4:2000 ED1

Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 4: Spécification intermédiaire - Agrément de savoir-faire

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IEC 60368-4-1:2000 ED1

Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 4-1: Spécification particulière cadre - Agrément de savoir-faire

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IEC 60444-1:1986 ED2

Mesure des paramètres des quartz piézoélectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi - Partie 1: Méthode fondamentale pour la mesure de la fréquence de résonance et de la résistance de résonance des quartz piézoélectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi

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IEC 60444-1:1986/AMD1:1999 ED2

Amendement 1 - Mesure des paramètres des quartz piézoélectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi. Première partie: Méthode fondamentale pour la mesure de la fréquence de résonance et de la résistance de résonance des quartz piézoélectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi

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IEC 60444-2:1980 ED1

Mesure des paramètres des quartz piézoélectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi. Deuxième partie: Méthode de décalage de phase pour la mesure de la capacité dynamique des quartz

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IEC TR 60444-3:1986 ED1

Mesure des paramètres des quartz piézoélectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi. Troisième partie: Méthode fondamentale pour la mesure des paramètres à deux pôles des résonateurs à quartz à la fréquence jusqu'à 200 MHz par la technique de phase dans le circuit en pi avec compensation de la ..

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IEC TR 60444-4 ED2

Examen systématique de la CEI 444-4 (1988)

CAN
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IEC TR 60444-4:1988 ED1

Mesure des paramètres des quartz piézoélectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi. Partie 4: Méthode pour la mesure de la fréquence de résonance à la charge fL et de la résistance de résonance à la charge RL et pour le calcul des autres valeurs dérivées des quartz piézoélectriques, jusqu'à 30 MHz

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IEC 60444-5:1995 ED1

Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 5: Méthodes pour la détermination des paramètres électriques équivalents utilisant des analyseurs automatiques de réseaux et correction des erreurs

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EN U 49/337/CD
IEC 60444-6:2013 ED2

Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 6: Mesure de la dépendance du niveau d'excitation (DNE)

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IEC 60444-6:1995 ED1

Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 6: Mesure de la dépendance du niveau d'excitation (DNE)

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EN-FR 1994-02 U
IEC 60444-7:2004 ED1

Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 7: Mesure des baisses de l'activité et de la fréquence des résonateurs à quartz

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IEC 60444-7:2004/FRAGF ED1

Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 7: Mesure des baisses de l'activité et de la fréquence des résonateurs à quartz

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IEC 60444-8 ED2

Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 8: Dispositif d'essai pour les résonateurs à quartz montés en surface

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IEC 60444-8:2003 ED1

Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 8: Dispositif d'essai pour les résonateurs à quartz montés en surface

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IEC 60444-8:2003/FRAGF ED1

Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 8: Dispositif d'essai pour les résonateurs à quartz montés en surface

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IEC 60444-9:2007 ED1

Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 9: Mesure des résonances parasites des résonateurs piézoélectriques

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IEC 60444-9:2007/FRAGF ED1

Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 9: Mesure des résonances parasites des résonateurs piézoélectriques

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IEC 60444-11:2010 ED1

Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 11: Méthode normalisée pour la détermination de la fréquence de_résonance à la charge fL et de la capacité de charge efficace CLeff utilisant des analyseurs automatiques de réseaux et correction des erreurs

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EN-FR 2010-10 Y Webstore
IEC 60483:1976 ED1

Guide pour les mesures dynamiques des céramiques piézoélectriques avec coefficient de couplage électromécanique élevé

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IEC 60642 ED2

Examen systématique de la CEI 642 (1979)

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IEC 60642:1979 ED1

Résonateurs et dispositifs en céramique piézoélectrique pour la commande et le choix de la fréquence - Chapitre I: Valeurs et conditions normalisées - Chapitre II: Conditions de mesure et d'essais

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IEC 60642:1979/AMD1:1992 ED1

Amendement 1 - Résonateurs et dispositifs en céramique piézoélectrique pour la commande et le choix de la fréquence - Chapitre I: Valeurs et conditions normalisées - Chapitre II: Conditions de mesure et d'essais

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IEC 60642-2:1994 ED1

Résonateurs (dispositifs) à céramique piézoélectrique - Partie 2: Guide pour l'emploi des résonateurs (dispositifs) à céramique piézoélectrique

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IEC 60642-3:1992 ED1

Résonateurs à céramiques piézoélectriques - Partie 3: Encombrements normalisés

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IEC 60679-1:2007 ED3

Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique

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IEC 60679-1:2007/FRAGF ED3

Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique

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IEC 60679-1:1997 ED2

Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique

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EN-FR Y 49/385/FDIS
IEC 60679-1:1997/FRAG2 ED2

Amendement à la CEI 679-1: Oscillateurs pilotés par quartz - Spécification dans le systèmes CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques (IECQ) - Partie 1: Spécification généric

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EN-FR U 49/342/CDV
IEC 60679-1:1997/AMD1:2002 ED2

Amendement 1 - Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique

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EN-FR Y 49/523/FDIS PDF file 172 kB
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IEC 60679-1:1997/AMD2:2003 ED2

Amendement 2 - Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique

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EN-FR Y 49/591/FDIS PDF file 395 kB
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IEC 60679-1:1980 ED1

Oscillateurs pilotés par quartz. Première partie: Informations générales, conditions et méthodes d'essai

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IEC 60679-1:1980/AMD1:1985 ED1

Amendement 1 - Oscillateurs pilotés par quartz. Première partie: Informations générales, conditions et méthodes d'essai

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IEC 60679-2 ED2

Examen systématique de la CEI 679-2 (1981)

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IEC 60679-2:1981 ED1

Oscillateurs pilotés par quartz - Partie 2:. Guide pour l'utilisation des oscillateurs pilotés par quartz

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IEC 60679-3:2012 ED3

Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés et connexions des sorties

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EN-FR 2013-01 Y Webstore
IEC 60679-3:2001 ED2

Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés et connexions des sorties

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EN 2010-12 Y
IEC 60679-3:1989 ED1

Oscillateurs pilotés par quartz. Troisième partie: Encombrements normalisés et connexions des sorties

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IEC 60679-3:1989/AMD1:1994 ED1

Amendement 1 - Oscillateurs pilotés par quartz. Troisième partie: Encombrements normalisés et connexions des sorties

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EN-FR U 49(SEC.)/226/CD
IEC 60679-4:1997 ED1

Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 4: Spécification intermédiaire - Agrément de savoir-faire

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IEC 60679-4-1:1998 ED1

Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 4-1: Spécification particulière cadre - Agrément de savoir-faire

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IEC 60679-5:1998 ED1

Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 5: Spécification intermédiaire - Homologation

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IEC 60679-5-1:1998 ED1

Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 5-1: Spécification particulière cadre - Homologation

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IEC 60679-6:2011 ED1

Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 6: Méthode de mesure de la gigue de phase pour les oscillateurs à quartz et les oscillateurs SAW - Lignes directrices pour l'application

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EN-FR 2011-03 Y Webstore
IEC 60679-3A:1991 ED1

Premier complément

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IEC 60689:2008 ED2

Méthodes de mesure et d'essai concernant le réglage des résonateurs à quartz dans la plage comprise entre 10 kHz et 200 kHz et valeurs normales

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EN-FR 2008-12 Y Webstore
IEC 60689:2008/FRAGF ED2

Méthodes de mesure et d'essai concernant le réglage des résonateurs à quartz dans la plage comprise entre 10 kHz et 200 kHz et valeurs normales

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FR 2013-06 U
IEC 60689:1980 ED1

Méthodes de mesure et d'essais destinées aux quartz à 32 kHz pour montres-bracelets et valeurs normales

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EN 2016-05 Y Webstore
IEC 60758:2008 ED4

Cristal de quartz synthétique - Spécifications et lignes directrices d'utilisation

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IEC 60758:2008/FRAGF ED4

Cristal de quartz synthétique - Spécifications et lignes directrices d'utilisation

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FR 2012-01 U
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IEC 60758:1993 ED2

Cristal de quartz synthétique - Spécifications et guide d'utilisation

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IEC 60758:1993/AMD1:1997 ED2

Amendement 1 - Cristal de quartz synthétique - Spécifications et guide d'utilisation

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IEC 60758:1993/AMD2:2001 ED2

Amendement 2 - Cristal de quartz synthétique - Spécifications et guide d'utilisation

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IEC 60862-1:2015 ED3

Filtres à ondes acoustiques de surface (OAS) sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique

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IEC 60862-1:2003 ED2

Filtres à ondes acoustiques de surface (OAS) sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique

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IEC 60862-1:1989 ED1

Filtres à ondes acoustiques de surface (OAS). Première partie: Informations générales, valeurs normalisées et conditions d'essais - Chapitre I: Informations générales et valeurs normalisées - Chapitre II: Conditions d'essais

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IEC 60862-2:2012 ED3

Filtres à ondes acoustiques de surface (OAS) sous assurance de la qualité - Partie 2: Lignes directrices d'utilisation

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IEC 60862-2:2002 ED2

Filtres à ondes acoustiques de surface (OAS) sous assurance de la qualité - Partie 2: Guide d'utilisation

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IEC 60862-2:1991 ED1

Filtres à ondes acoustiques de surface (OAS) - Deuxième partie: Guide d'emploi des filtres à ondes acoustiques de surface (Chapitre III)

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IEC 60862-3:2003 ED2

Filtres à ondes acoustiques de surface (OAS) sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés

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EN-FR 2002-12 Y Webstore
IEC 60862-3:1986 ED1

Filtres à ondes acoustiques de surface (OAS). Troisième partie: Encombrements normalisés (Chapitre IV)

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IEC 61019-1:2004 ED1

Résonateurs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Partie 1: Spécification générique

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IEC 61019-1:2004/FRAGF ED1

Résonateurs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Partie 1: Spécification générique

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FR 2011-05 U
IEC 61019-1-1 ED2

Examen systématique de la CEI 1019-1-1 (1990)

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Résonateurs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Première partie: Informations générales, valeurs normalisées et conditions d'essais - Section 1: Informations générales et valeurs normalisées

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Résonateurs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Partie 1: Informations générales, valeurs normalisées et conditions d'essais - Section 2: Conditions d'essais

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Résonateurs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Partie 2: Guide d'emploi

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Résonateurs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Partie 2: Guide d'emploi

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Résonateurs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Partie 2: Guide d'emploi

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Résonateurs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Troisième partie: Encombrements normalisés et connexions des sorties

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Guide pour la mesure des paramètres électriques équivalents des résonateurs à quartz

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Résonateurs à quartz - Spécification dans le Système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques (IECQ) - Partie 1: Spécification générique

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Résonateurs à quartz - Spécification dans le Système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques (IECQ) - Partie 2: Spécification intermédiaire - Agrément de savoir-faire

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Résonateurs à quartz - Spécification dans le Système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques (IECQ) - Partie 2: Spécification intermédiaire - Agrément de savoir-faire - Section 1: Spécification particulière cadre

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Résonateurs à quartz - Spécification dans le système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques (IECQ) - Partie 3: Spécification intermédiaire - Homologation

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Résonateurs à quartz - Spécification dans le système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques (IECQ) - Partie 3: Spécification intermédiaire - Homologation - Section 1: Spécification particulière cadre

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Dispositifs piézoélectriques - Préparation des dessins d'encombrement des dispositifs à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Règles générales

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Dispositifs piézoélectriques - Préparation des dessins d'encombrement des dispositifs à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Règles générales

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Résonateurs à céramique piézoélectrique - Spécification dans le système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques (IECQ) - Partie 1: Spécification générique - Homologation

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Résonateurs à céramique piézoélectrique - Spécification dans le système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques (IECQ) - Partie 2: Spécification intermédiaire - Homologation

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Résonateurs à céramique piézoélectrique - Spécification dans le système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques (IECQ) - Partie 2: Spécification intermédiaire - Homologation - Section 1: Spécification particulière cadre - Niveau d'assurance E

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Filtres à céramique piézoélectrique destinés aux équipements électroniques - Spécification dans le système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques (IECQ) - Partie 1: Spécification générique - Homologation

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Filtres à céramique piézoélectrique destinés aux équipements électroniques - Spécification dans le système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques (IECQ) - Partie 2: Spécification intermédiaire - Homologation

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Filtres à céramique piézoélectrique destinés aux équipements électroniques - Spécification dans le système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques (IECQ) - Partie 2: Spécification intermédiaire - Homologation - Section 1: Spécification particulière cadre - Niveau d'assurance E

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Filtres utilisant des résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1: Spécification générique

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Filtres utilisant des résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1: Spécification générique

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Filtres utilisant des résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1: Informations générales, valeurs normalisées et conditions d'essais - Section 1: Informations générales et valeurs normalisées

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Filtres utilisant des résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1-2: Conditions d'essais

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Filtres utilisant des résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 2: Lignes directrices d'utilisation

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Filtres utilisant des résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 2: Lignes directrices d'utilisation

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Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1: Spécification générique

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Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1: Spécification générique

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Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1: Informations générales et conditions d'essais - Section 1: Informations générales

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Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1-2: Informations générales et conditions d'essais - Conditions d'essais

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Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1-3: Informations générales et conditions d'essais - Méthode de mesure de la permittivité relative complexe des matériaux diélectriques pour les résonateurs diélectriques fonctionnant aux hyperfréquences

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Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1-4: Informations générales et conditions d'essais - Méthode de mesure de la permittivité relative complexe des matériaux des résonateurs diélectriques fonctionnant à des fréquences millimétriques

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Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1-4: Informations générales et conditions d'essais - Méthode de mesure de la permittivité relative complexe des matériaux des résonateurs diélectriques fonctionnant à des fréquences millimétriques

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Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1-5: Informations générales et conditions d'essais - Méthode de mesure de la conductivité au niveau de l'interface entre une couche conductrice et un substrat diélectrique fonctionnant aux hyperfréquences

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Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 2: Lignes directrices pour l'application aux filtres et aux oscillateurs

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Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 2: Lignes directrices pour l'application aux filtres et aux oscillateurs

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Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 4: Spécification intermédiaire

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Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 4: Spécification intermédiaire

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Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 4-1: Spécification particulière cadre

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Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 4-1: Spécification particulière cadre

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Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 1: Encombrements des enveloppes en plastique moulées

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Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 1: Encombrements des enveloppes en plastique moulées

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Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 2: Enveloppes en céramique

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Amendement 1 - Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 2: Enveloppes en céramique

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Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 2: Enveloppes en céramique

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Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 3: Enveloppes métalliques

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Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 3: Enveloppes métalliques

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Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 4: Encombrements des enveloppes hybrides

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Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 4: Encombrements des enveloppes hybrides

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Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 4: Encombrements des enveloppes hybrides

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Dispositifs piézoélectriques et diélectriques pour la commande et le choix de la fréquence - Glossaire - Partie 1: Résonateurs piézoélectriques et diélectriques

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Dispositifs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques et matériaux associés pour la commande, le choix et la détection de la fréquence - Glossaire - Partie 2: Filtres piézoélectriques et diélectriques

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Dispositifs piézoélectriques et diélectriques pour la commande et le choix de la fréquence - Glossaire - Partie 2: Filtres piézoélectriques et diélectriques

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Dispositifs piézoélectriques et diélectriques pour la commande et le choix de la fréquence - Glossaire - Partie 4-1: Matériaux piézoélectriques - Cristal de quartz synthétique

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Dispositifs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques et matériaux associés pour la commande, le choix et la détection de la fréquence - Glossaire - Partie 4-2: Matériau piézoélectriques et diélectriques - Céramiques piézoélectriques

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Dispositifs piézoélectriques et diélectriques pour la commande et le choix de la fréquence - Glossaire - Partie 4-2: Matériaux piézoélectriques et diélectriques - Céramiques piézoélectriques

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Tranches monocristallines pour applications utilisant des dispositifs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Spécifications et méthodes de mesure

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IEC 62575-1:2015 ED1

Filtres radiofréquences (RF) à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique

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Filtres radiofréquences (RF) à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 2: Lignes directrices d'emploi

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Duplexeurs à ondes acoustiques de surface (OAS) et à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique

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IEC 62604-2:2011 ED1

Duplexeurs à ondes acoustiques de surface (OAS) et à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 2: Lignes directrices d'utilisation

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IEC 62761:2014 ED1

Lignes directrices pour la méthode de mesure des non-linéarités pour les dispositifs à ondes acoustiques de surface (OAS) et à ondes acoustiques de volume (OAV) pour fréquences radioélectriques (RF)

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Filtres piézoélectriques. Deuxième complément

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