International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

TC 113

Normalisation dans le domaine des nanotechnologies relatives aux appareils et systèmes électriques et électroniques

 
export to xls file

WG 7 Convenor & Membres

Convenor
National

Comité
Mr Hiroyuki Akinaga
 JP
Mr Won-Kyu Park
 KR
Membre
sort down
sort upsort down
National

Comité
Mr Shinji ARAMAKIJP
Mr Jens Andreas HauchDE
Mr Youngpyo KimKR
Mr Kyungho parkKR
Mr Alex PriceGB
Mr Haridoss SarmaCA
Mrs Nataly A. ShlamkovaRU
Mr Evgeny A. TitovRU
Mr Yuji YoshidaJP

Titre & Tâche

WG 7

Fiabilité

 

Développer des normes pour l’évaluation de la fiabilité dans le domaine des nano-électrotechnologies. Les travaux se concentrent sur les mécanismes de défaillance et les modes de défaillance liés à l’utilisation des nanomatériaux, sur les interfaces entre matériaux et les contacts à l’échelle nano en prenant en compte les effets dépendant de la taille. Les normes à développer incluent les méthodes d’essais pour identifier les mécanismes de défaillance, pour déterminer la durée de vie, pour analyser les effets des défaillances et évaluer la durabilité des produits possibles grâce aux nanotechnologies.