International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

SC 47E

Dispositifs discrets à semiconducteurs

 
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WG 1 Convenor & Membres

Convenor
National
Comité
Mr Sekwang Park
 KR
Membre
sort down
sort upsort down
National
Comité
Mr Ki Seok bangKR
Mr Werner BernsDE
Mr Yutaka KakishimaJP
Mr Sang-Jo LeeKR
Mr JongMuk LEEKR
Mr Sang-Geun LeeKR
Mr Kuniki OhwadaJP
Mr Joon-Shik ParkKR
Mr Josef-Paul SchafferDE
Mr Akira UmedaJP
Mr Paul J. Van Der WelNL
Mr Yongjun YangCN
Mr Kyung-Hoon YoonKR

Titre & Tâche

WG 1

Capteurs à semiconducteurs

 

Préparer des normes applicables aux termes et aux définitions,
aux symboles littéraux, aux valeurs limites et aux
caractéristiques essentielles, aux méthodes de mesure et aux
spécifications intermédiaires et particulières-cadre qui
intéressent les capteurs à semiconducteurs qui modulent par
induction une porteuse en fonction de la variation des
conditions de proximité du dispositif, ces conditions pouvant
comprendre, sans que ce soit limitatif la température, la
pression, la composition de l'atmosphère proche, l'irradiation
par de la lumière ou des particules, les champs électriques et
magnétiques.

Les dispositions établies par cette norme sont également applicables aux capteurs utilisant des matériaux autres que des semiconducteurs, par exemple des matériaux diélectriques ou ferroélectriques.

Les photodiodes, les phototransistors, les dispositifs à
couplage de charge, les thermocouples, les capteurs à fibre
optique et les capteurs pyroélectriques sont exclus de cette
tâche.