SC 47E |
Dispositifs discrets à semiconducteurs |

Convenor | National Comité | |
|---|---|---|
Mr Sekwang Park | KR | |
Membre | National Comité |
|---|---|
| Mr Ki Seok bang | KR |
| Ms Ji Hye Jang | KR |
| Mr Yutaka Kakishima | JP |
| Mr Sung Lark Kwon | KR |
| Mr Sang-Geun Lee | KR |
| Mr JongMuk LEE | KR |
| Mr Sang-Jo Lee | KR |
| Mr Kuniki Ohwada | JP |
| Mr Joon-Shik Park | KR |
| Mr Josef-Paul Schaffer | DE |
| Mr Akira Umeda | JP |
| Mr Paul J. Van Der Wel | NL |
| Mr Yongjun Yang | CN |
| Mr Kyung-Hoon Yoon | KR |
Titre & Tâche
WG 1
Capteurs à semiconducteurs
Préparer des normes applicables aux termes et aux définitions,
aux symboles littéraux, aux valeurs limites et aux
caractéristiques essentielles, aux méthodes de mesure et aux
spécifications intermédiaires et particulières-cadre qui
intéressent les capteurs à semiconducteurs qui modulent par
induction une porteuse en fonction de la variation des
conditions de proximité du dispositif, ces conditions pouvant
comprendre, sans que ce soit limitatif la température, la
pression, la composition de l'atmosphère proche, l'irradiation
par de la lumière ou des particules, les champs électriques et
magnétiques.
Les dispositions établies par cette norme sont également applicables aux capteurs utilisant des matériaux autres que des semiconducteurs, par exemple des matériaux diélectriques ou ferroélectriques.
Les photodiodes, les phototransistors, les dispositifs à
couplage de charge, les thermocouples, les capteurs à fibre
optique et les capteurs pyroélectriques sont exclus de cette
tâche.



