International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
TC 47 |
Dispositifs à semiconducteurs |

Convenor | National Comité | |
|---|---|---|
Mr Nobuyuki Wakai | JP | |
Membre | National Comité |
|---|---|
| Mr Jaap Bisschop | NL |
| Mr Kinam Kim | KR |
| Mr Ivan G. Loukitsa | RU |
| Mr Nicholas E.F. Lycoudes | US |
| Mr Andreas Martin | DE |
| Mr Hideya Matsuyama | JP |
| Mr Joon-Shik Park | KR |
| Mr Konstantin S. Tkachuk | RU |
| Mr Dr. Vali uddin | PK |
| Mr Nobuyuki Wakai | JP |
Titre & Tâche
WG 5
Wafer Level Reliability for semiconductor devices
Organisations | Membre d'une liaison |
|---|---|
| LIAISON_D | |
| EIA | |



